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文檔簡(jiǎn)介
1、隨著電子封裝的無(wú)鉛化和微型化,焊料與襯底金屬間生成的界面金屬間化合物(intermetallic compound簡(jiǎn)稱(chēng)IMC)對(duì)焊點(diǎn)的可靠性產(chǎn)生了不可忽視的影響。本文工作對(duì)IMC層的力學(xué)性能進(jìn)行了理論與實(shí)驗(yàn)研究,分析了IMC層在熱循環(huán)和跌落沖擊載荷下對(duì)焊點(diǎn)可靠性的影響。
1、采用納米壓痕技術(shù)對(duì)焊點(diǎn)連接各層材料的力學(xué)性能進(jìn)行研究,并對(duì)不同工況制備的IMC層進(jìn)行性能測(cè)試。通過(guò)對(duì)Sn3.0Ag0.5Cu焊料、IMC層和Cu焊盤(pán)的
2、力學(xué)性能進(jìn)行分析對(duì)比,發(fā)現(xiàn)IMC層的性能與無(wú)鉛焊料和Cu的性能存在較大差異,焊點(diǎn)連接層在承受外荷載作用時(shí),IMC周?chē)鷮a(chǎn)生較大的應(yīng)力集中,此處為焊點(diǎn)失效的關(guān)鍵位置;不同工藝制備條件(無(wú)鉛焊料成分、回流焊接次數(shù)和焊接曲線(xiàn)的加熱因子值)對(duì)IMC層的力學(xué)性能均存在一定的影響,研究結(jié)果為電子封裝制備工藝的進(jìn)一步優(yōu)化提供了研究基礎(chǔ)。
2、根據(jù)實(shí)驗(yàn)結(jié)果確定電子封裝中IMC層的彈塑性本構(gòu)關(guān)系。采用ANSYS有限元分析軟件,結(jié)合量綱分析方
3、法和反演分析技術(shù),建立載荷位移曲線(xiàn)與材料彈塑性本構(gòu)參數(shù)之間的聯(lián)系。根據(jù)特征應(yīng)力和特征應(yīng)變的概念,建立了無(wú)鉛焊料Sn3.0Ag0.5Cu內(nèi)生成Cu3Sn和Cu6Sn5、Sn3.5Ag內(nèi)生成的Cu6Sn5以及Sn0.7Cu內(nèi)生成的Cu6Sn5的彈塑性本構(gòu)關(guān)系。
3、針對(duì)不同時(shí)效時(shí)間下的IMC厚度測(cè)量值,分析時(shí)效對(duì)焊點(diǎn)抵抗熱疲勞能力的影響,對(duì)無(wú)鉛焊點(diǎn)Sn3.0Ag0.5Cu、Sn3.5Ag和Sn0.7Cu的熱疲勞可靠性進(jìn)行評(píng)估。
4、采用ANSYS有限元分析軟件,對(duì)焊點(diǎn)在熱循環(huán)載荷下的力學(xué)行為進(jìn)行分析,并采用修正的Coffin-Manson經(jīng)驗(yàn)方程對(duì)關(guān)鍵焊點(diǎn)進(jìn)行熱疲勞壽命預(yù)測(cè)。可見(jiàn)PBGA中的關(guān)鍵焊點(diǎn)位于芯片右下方;關(guān)鍵焊點(diǎn)的等效應(yīng)力最大值隨著IMC層厚度值的增大而減小,等效塑性應(yīng)變最大值隨著IMC層厚度值增大而增大;模型中IMC層的厚度對(duì)關(guān)鍵焊點(diǎn)的疲勞壽命具有重要的影響,其壽命周期隨著IMC層厚度的增大而減小。IMC層厚度為19μm的關(guān)鍵焊點(diǎn)壽命周期比厚度為2μm
5、時(shí)下降了21.46%;無(wú)鉛焊料Sn3.5Ag的熱疲勞壽命最大,分別為Sn0.7Cu和Sn3.0Ag0.5Cu的2.97倍和1.33倍。
4、分析跌落沖擊載荷下IMC層厚度對(duì)焊點(diǎn)可靠性的影響,討論了Sn3.5Ag、Sn3.0Ag0.5Cu和Sn0.7Cu三種無(wú)鉛焊點(diǎn)在跌落沖擊載荷下的可靠性。按照電子產(chǎn)品板級(jí)跌落測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(JEDEC Standard JESD22-B111),采用ANSYS/LS_ DYNA有限元分析軟件和I
6、nput-G方法對(duì)PBGA在板級(jí)跌落條件下的力學(xué)行為進(jìn)行計(jì)算。分析表明,IMC層為2μm~19μm與不考慮IMC層(即IMC層厚度為0)時(shí)焊點(diǎn)最大剝離應(yīng)力的差值范圍為0.0314~0.1032GPa,相應(yīng)的增大比例為10.9%~36%;隨著IMC層厚度的增大,關(guān)鍵焊點(diǎn)的最大剝離應(yīng)力值增大,增大的速率從0.0157GPa/μm逐漸減小到0.0009GPa/μm;同時(shí),Sn3.5Ag、Sn3.0Ag0.SCu和Sn0.7Cu的最大剝離應(yīng)力值
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