基于云進化算法的3D NoC測試規(guī)劃.pdf

1、隨著半導(dǎo)體集成工藝的快速發(fā)展,單硅片上集成的IP核數(shù)急劇增加,片上網(wǎng)絡(luò)(Network-on-Chip,NoC)技術(shù)的發(fā)展受到了平面結(jié)構(gòu)的種種限制,為了更好地利用NoC的優(yōu)點,一些學(xué)者提出3D NoC的概念。3D NoC不僅具有互連線短、集成度高、功耗低、電路抗噪聲能力強等特點,而且在數(shù)據(jù)傳輸?shù)奈粚捄涂蓴U展性等方面也有很大的優(yōu)勢,但是隨著NoC IP核數(shù)量的增多,芯片的復(fù)雜度和集成度越來越高,使得NoC的測試時間越來越長,并行測試能有效

2、的降低測試時間,但會導(dǎo)致測試功耗急劇上升,使得測試芯片的可靠性降低。因此如何在功耗約束下盡快完成 IP核測試成為了亟待解決的問題。
　　針對以上問題,本文提出了基于云進化算法的3D NoC測試規(guī)劃方法,該方法首先通過平分搜索范圍的方式形成第一代種群,建立3D NoC總功耗和層功耗模型,在滿足雙重功耗約束以及測試路徑不沖突的情況下進行測試,采用種群精英個體保留策略選擇優(yōu)秀個體,并利用云模型的隨機性和穩(wěn)定性特點進行迭代尋優(yōu),旨在降低總