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文檔簡介
1、氧化錫銻(ATO)薄膜是一種新型透明導電氧化物薄膜,因具有資源豐富、價格低廉、無毒無污染,且禁帶寬度大(>3.6eV)、導電性好、可見光透過率高、化學穩(wěn)定性高、熱穩(wěn)定性好等優(yōu)點,而成為最有可能替代氧化銦錫(ITO)薄膜的材料之一。磁控濺射沉積是迄今為止工業(yè)上應用最廣泛的鍍膜方法,但由于SnO2在高溫下(>1100℃)易揮發(fā)及其在燒結過程中的蒸發(fā)凝聚機制,使得ATO陶瓷靶材很難致密化,低致密度的ATO陶瓷靶材制約了ATO薄膜導電性能和光學
2、性能的提高。
因此,本文以磁控濺射沉積的ATO透明導電氧化物薄膜為研究對象,針對ATO陶瓷靶材難以燒結致密的難題,以及高質量薄膜對陶瓷靶材致密度的要求,以非水基溶膠凝膠法制備的ATO納米粉體為原料,降低粉體燒結活化能,提高燒結驅動力;采用電場活化燒結技術(Field Activated Sintering Technology,簡稱 FAST),降低燒結溫度、縮短燒結時間,抑制 SnO2的高溫揮發(fā),制備高致密的ATO陶瓷靶材;
3、采用磁控濺射沉積制備 ATO薄膜,深入研究靶材致密度對ATO薄膜組成結構及性能的影響,并采用高致密的ATO陶瓷靶材制備低電阻率、高可見光透過率的ATO薄膜。
首先,本文以無水乙醇代替苯甲醇作溶劑和氧化劑,采用非水基溶膠凝膠法制備出結晶性高、銻摻雜含量可控的ATO納米粉體。通過研究絡合劑含量對ATO納米粉體物相及結構的影響,確定絡合劑檸檬酸的最佳配比:檸檬酸與金屬的摩爾比為2。在此配比下,當Sb摻雜含量從0at.%增加到30at
4、.%時,Sb均成功摻雜進入SnO2晶格,摻雜可控且無表面偏析現象。ATO納米粉體具有較好的結晶性,晶粒尺寸大約為20nm。
其次,本文以溶膠凝膠法合成的ATO納米粉體為原料,采用電場活化燒結技術,制備物相單一、高致密的ATO陶瓷靶材。通過研究燒結工藝參數(燒結溫度、升溫速率和燒結壓力)、銻摻雜含量和樣品尺寸對ATO陶瓷顯微結構及致密度的影響,確定了電場活化燒結的最佳工藝條件;通過分析電場活化燒結過程中ATO納米陶瓷的結構演變,
5、采用ANSYS軟件數值模擬電場活化燒結過程中的電場分布和熱場分布,建立ATO納米導電陶瓷的電場活化燒結機制;在高致密ATO陶瓷的基礎上,系統(tǒng)研究銻摻雜含量和晶粒尺寸對ATO陶瓷導電性能的影響。研究表明:在最佳工藝條件(燒結溫度1000℃,升溫速率100℃/分鐘,燒結壓力40MPa,保溫時間3分鐘)下,銻摻雜含量從1at.%增加到10at.%, ATO納米陶瓷的致密度均在95%以上,且銻均成功摻雜進入 SnO2晶格。當銻摻雜含量為5at.
6、%時,ATO納米陶瓷的致密度最高為99.2%。電場活化燒結具有明顯的尺寸效應,小尺寸(直徑20mm)樣品內部結構均勻、易燒結致密化,大尺寸(直徑50mm以上)樣品內部結構不均勻、不易致密化。當延長保溫時間至30分鐘時,獲得結構均勻、完整、致密(致密度98.1%),樣品直徑為50mm, Sb摻雜含量為5at.%的ATO陶瓷靶材。ATO納米陶瓷的電場活化致密化過程可分為兩個階段:第一階段,樣品為原始粉料堆積狀態(tài),電阻率較高,電流主要從石墨模
7、具中通過,樣品熱量全部來自于石墨的熱傳導;第二階段,樣品開始致密化,電阻率降低,部分電流從樣品中流過,蒸發(fā)凝聚再結晶促進物質遷移,促進致密化,導電性能越好的樣品,通過電流越多,物質遷移越快,致密度越高。ATO陶瓷的電阻率隨銻摻雜含量的增加先減小后增加,隨晶粒尺寸的增加而減小。當銻摻雜含量為5at.%,晶粒尺寸為50nm時,ATO陶瓷的電阻率最低為4.43×10-3Ωcm。
最后,本文采用磁控濺射沉積制備低電阻率、高透過率的AT
8、O薄膜。研究不同致密度靶材鍍膜前后的組成結構變化、靶材致密度對ATO薄膜組成結構及性能的影響;并采用成膜效果最佳的ATO靶材,調控磁控濺射工藝參數(退火處理、氧氣分壓、沉積溫度、濺射功率),研究工藝參數對ATO薄膜組成結構及性能的影響,建立ATO薄膜組成結構與其導電、光學性能之間的關系,得到性能最佳的ATO薄膜。研究表明:在相同磁控濺射工藝條件下,市售低致密ATO靶材易結瘤,易產生微電弧放電,微電弧放電使得靶材表面Sb含量從4.87 a
9、t.%顯著降低至2.03 at.%,Sn(Sn-OH)化學態(tài)含量從4.05%顯著增加到22.07%,從而導致低致密ATO靶材制備的ATO薄膜Sb含量不到1 at.%,Sb5+/Sb3+比例較低。自制高致密ATO納米陶瓷靶材易于控制ATO薄膜的Sb摻雜含量,有利于制備高載流子濃度、低電阻率、高透過率的ATO薄膜。當氧氣分壓為O2/(O2+Ar)=10%,沉積溫度為300℃,濺射功率為300W,濺射30分鐘后于空氣氣氛中450℃退火15分鐘
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