模擬電路測點優(yōu)選與測試生成方法研究.pdf

1、模擬電路測試節(jié)點優(yōu)選和測試生成技術是模擬電路故障診斷和可測性設計的重要研究內容。這兩項技術的研究對減小電路測試復雜度、降低電路設計成本、提高電路故障診斷率具有重要意義。
　　 本論文詳細闡述了模擬電路測試節(jié)點優(yōu)選和測試激勵優(yōu)化設計基本原理,研究設計了一套具有良好普適性和魯棒性,適用于線性和非線性模擬電路的測試節(jié)點優(yōu)選和測試激勵優(yōu)化設計方法。論文主要研究工作包括:(1)設計了一種基于類內類間敏感度因子與故障隔離度的模擬電路測試節(jié)點

2、優(yōu)選方法。通過計算電路各測試節(jié)點采樣數據的類內類間離散度來定義測點敏感度因子,根據敏感度因子大小對待優(yōu)選測點進行重新排序,利用KNN網絡計算重排序測試節(jié)點的故障隔離組(度),最后優(yōu)選出能辨識全部預設故障的最優(yōu)測試節(jié)點集。實驗證明,對比相關參考文獻結果,本文方法優(yōu)選出的最優(yōu)測點集包含的測點數量更少,并且可以優(yōu)選出故障診斷效率更高的同等規(guī)模的測試節(jié)點集合。
　　 (2)設計了一種基于遺傳算法的測試激勵優(yōu)化方法。該方法利用遺傳算法概率

3、性全局尋優(yōu)、并行搜索能力強等優(yōu)點,以電路故障響應特征分布差異最大化為準則來優(yōu)化電路測試激勵中的幅值、頻率和相位等參數。在對電路進行交流掃頻分析和數學建模仿真分析基礎上,通過計算電路響應信號采樣數據類內類間離散度來定義優(yōu)化目標函數,統(tǒng)計測試激勵敏感度因子大小,最終借助遺傳算法實現測試激勵優(yōu)化設計。實驗證明,本文方法優(yōu)化設計出的測試激勵信號有效降低了電路故障響應特征分布模糊性,提高了故障診斷率。
　　 本論文的研究工作受國家自然科學