片式鉭電容器浪涌電流失效研究.pdf

1、二氧化錳陰極片式鉭電容器因其體積小、容量大、漏電流小、溫度和頻率特性好、可靠性高、壽命長等優(yōu)點在電子裝備中一直有著廣泛的應用。然而，隨著片式固體鉭電容器在高頻、低阻抗電路中的廣泛應用，二氧化錳陰極片式鉭電容器特有的一種失效模式——浪涌電流失效模式成了困擾制造商和用戶的一個問題，是制約其在高可靠領域應用的一大障礙。
　　目前為止，國內針對片式鉭電容器浪涌電流失效進行專題研究的公開文獻報道較少，從事類似產品研發(fā)的單位也不多，因而該研究

2、領域在國內仍處起步階段。但是，國外對片式鉭電容器浪涌電流失效的研究報道較多，關于其失效機理已經出現(xiàn)了多種流派，大概分為4種類型，即(1) KEMET公司提出的“閃火擊穿理論”；(2) NASA提出的“電壓振蕩理論”；(3)AVX公司提出的“局部熱擊穿理論”；(4) KEMET公司提出的“機械應力理論”。
　　本文參考國外的公開報道，基于片式鉭電容器浪涌電流失效機理的4種理論框架，從產品設計、制造工藝和使用性能等方面，對片式鉭電容器

3、的浪涌電流失效進行了較全面和較系統(tǒng)的研究。本文分別在宏觀和微觀尺度上，分析和討論了導致片式鉭電容器浪涌電流失效的可能原因，得出浪涌電流失效是場致?lián)舸┒菬嶂聯(lián)舸g塊強度和結構穩(wěn)定性是造成浪涌電流失效的主要內在因素，而外部電場的高低及焊接溫度應力則是導致浪涌電流失效的關鍵外部因素等結論。與此同時，論文還針對這些原因給出了采用橫向成型法、3次循環(huán)焊接、1.2倍額定電壓篩選等設計和篩選對策，以最大限度地降低浪涌電流失效比率。
　　論文