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1、隨著成像系統(tǒng)的不斷發(fā)展,特別是焦平面陣列的要求不斷提高,大規(guī)模、低噪聲讀出電路越來(lái)越重要,怎樣提高讀出電路的性能迫在眉睫。本文研究分析了大規(guī)模、低噪聲和高性能讀出電路的設(shè)計(jì)技術(shù)。文章的內(nèi)容主要包括:當(dāng)前讀出電路的發(fā)展?fàn)顩r以及衡量讀出電路性能的主要參數(shù);讀出電路的主要噪聲源以及幾種主流的抑制讀出電路噪聲的技術(shù);MOS管在低溫環(huán)境下(77K)的特性分析;MOS管的低溫器件模型研究;讀出電路的結(jié)構(gòu)優(yōu)化等。通過(guò)上述研究,基于相關(guān)雙采樣(CDS)
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