基于編碼和逆向折疊的SoC測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf

1、基于IP核復(fù)用的系統(tǒng)芯片SoC是超深亞微米和納米階段的代表性產(chǎn)品,它不論在開(kāi)發(fā)周期,還是在系統(tǒng)功能、性能方面,都體現(xiàn)出無(wú)可比擬的優(yōu)點(diǎn).然而隨著集成的IP核數(shù)量的增加,芯片復(fù)雜性和測(cè)試數(shù)據(jù)量也不斷增加;同時(shí),自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ATE變得越來(lái)越昂貴,導(dǎo)致SoC的測(cè)試費(fèi)用正在飛速上升、測(cè)試難度急劇增加.SoC的測(cè)試問(wèn)題已經(jīng)受到越來(lái)越廣泛的關(guān)注.解決SoC測(cè)試問(wèn)題的一種最直接有效的方法就是對(duì)測(cè)試集進(jìn)行壓縮,通過(guò)壓縮來(lái)減少SoC測(cè)試數(shù)據(jù)量,從而達(dá)到降低

2、測(cè)試費(fèi)用的目的. 本論文針對(duì)SoC測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮主要提出了兩種方案,其中主要的工作有: (1)對(duì)當(dāng)前主流SoC測(cè)試方法進(jìn)行了分類(lèi),將這些測(cè)試方法歸結(jié)為外建自測(cè)試BOST、內(nèi)建自測(cè)試BIST與混合模式自測(cè)試三大類(lèi),并對(duì)每類(lèi)都舉出一些方案進(jìn)行闡述,剖析其內(nèi)在原理及特點(diǎn). (2)詳細(xì)講述了第一種方案--改進(jìn)的FDR碼(IFDR碼).針對(duì)FDR碼僅對(duì)測(cè)試集中的0游程進(jìn)行編碼壓縮、對(duì)測(cè)試集中廣泛存在的大量的1游程不但不能壓縮

3、反而對(duì)每個(gè)1需要用兩個(gè)比特位來(lái)編碼的這一問(wèn)題,IFDR采取同時(shí)對(duì)O游程和1游程進(jìn)行編碼的方式對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行壓縮,獲得了更高的壓縮率.在對(duì)測(cè)試集中無(wú)關(guān)位的確定化問(wèn)題上,IFDR也提出了一種較好的確定化方法.IFDR碼屬于外建自測(cè)試的范疇. (3)第二種方案--新型逆向折疊方案(NCFS)--是在折疊計(jì)數(shù)器技術(shù)的基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)了一種新的折疊電路,并改進(jìn)了測(cè)試模式間的逆向折疊關(guān)系,通過(guò)一個(gè)逆向折疊種子和測(cè)試模式間的逆向距離值來(lái)記錄整個(gè)測(cè)

4、試集.由于這種新的逆向折疊關(guān)系自身的特性,不必再像原逆向折疊方案中那樣對(duì)掃描鏈長(zhǎng)度的奇偶性作區(qū)分,更不必在掃描鏈長(zhǎng)度為奇數(shù)時(shí)對(duì)測(cè)試模式中每條掃描鏈后增加一位無(wú)關(guān)位,并且在逆向距離的計(jì)算以及跳轉(zhuǎn)路徑的選擇上更簡(jiǎn)捷、更靈活.另外,新型逆向折疊電路也比原折疊計(jì)數(shù)器方案電路更簡(jiǎn)單,更加節(jié)省硬件開(kāi)銷(xiāo).新型逆向折疊技術(shù)屬于混合模式自測(cè)試的范疇. 對(duì)ISCAS 89標(biāo)準(zhǔn)電路的實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,本文提出的兩種方案均能獲得很高的壓縮率并順利解壓還原原