質(zhì)子輻照下銅銦鎵硒(CIGS)太陽(yáng)電池性能研究.pdf

1、本論文利用綜合輻照模擬設(shè)備對(duì)CIGS太陽(yáng)電池進(jìn)行了50keV、100 keV、150keV質(zhì)子輻照試驗(yàn),研究分析了質(zhì)子輻照對(duì)CIGS太陽(yáng)電池的損傷效應(yīng)。
　　通過(guò)對(duì)質(zhì)子輻照前后電池的伏安特性、光譜響應(yīng)、光學(xué)反射譜測(cè)試,并利用電子掃描顯微鏡(SEM)、X射線衍射(XRD)分析,從而揭示CIGS太陽(yáng)電池輻照性能變化規(guī)律及損傷機(jī)理。
　　通過(guò)I-V曲線測(cè)試分析,找出了CIGS太陽(yáng)電池的短路電流(Isc)、開(kāi)路電壓(Voc)和最大功

2、率(Pm)電學(xué)參數(shù)隨質(zhì)子輻照能量和注量的變化規(guī)律,表明:質(zhì)子輻照均使CIGS電池電性能衰退;質(zhì)子輻照注量相同時(shí),電池的電學(xué)參數(shù)均隨著能量的增加而降低;質(zhì)子輻照能量相同時(shí),電池的電學(xué)參數(shù)隨著輻照注量增加而降低。
　　通過(guò)暗電流-電壓曲線,研究了輻照對(duì)CIGS電池內(nèi)阻的影響規(guī)律,研究表明,輻照能量和注量對(duì)電池串聯(lián)電阻影響較大;輻照能量和注量對(duì)電池并聯(lián)電阻影響較小。
　　對(duì)電池質(zhì)子輻照前后光譜響應(yīng)曲線進(jìn)行測(cè)試分析,研究表明質(zhì)子輻照