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文檔簡介
1、隨著高速電路中互連線設計尺寸和距離的不斷減小,以及芯片的工作速率不斷增加,由相鄰互連線產生的串擾噪聲和時延將會大大影響系統(tǒng)的性能,所以串擾噪聲和時延已成為決定互連電路可靠性的關鍵因素。本文結合高速電路互連線特性,建立簡單有效的串擾時延故障模型,對互連串擾噪聲和時延相關問題進行了深入研究。近年來,由于布爾可滿足性(Satisfiability, SAT)求解技術的廣泛發(fā)展和應用,將其用于ATPG測試矢量的求解也應運而生,同時高效SAT求解
2、器(SAT-solver)的出現(xiàn),使得大規(guī)模SAT的求解成為可能。鑒于此,本文提出了一種通過用Verilog語言進行電路描述、解析,構造串擾時延故障模型,并將抽象門級數字電路轉換成合取范式( Conjunctive NormalForm, CNF)形式,將ATPG問題轉化為SAT問題,并最終輸入到SAT求解器中進行求解,并同時闡述了整個系統(tǒng)的實現(xiàn)。
在此背景下,本文主要對以下幾個方面進行了研究。
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3、論的基礎上,深入理解串擾概念,分析和研究串擾形成原因、機制,說明串擾的危害,以及研究串擾的重要性,并總結了串擾的一些抑制方法。
?。ǘ┭芯苛颂兺窌r延故障模型,并在此模型的基礎上提出了一種新的故障模型--串擾通路時延故障模型。本文對跳變通路時延故障模型進行了詳細分析和研究,同時引入串擾機制,形成串擾時延故障模型,主要研究通路子路徑上串擾所產生的時延故障。
?。ㄈ┰诖當_時延故障模型下,提出了一種基于布爾可滿足性的測試
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